樣品池(chi)

樣(yang)品池(chi)是(shi)用來(lai)分(fen)散樣(yang)品的(de)器件。

控制面板

系統中(zhong)超(chao)聲時(shi)(shi)間(jian)、攪(jiao)拌速(su)(su)度(du)、循環(huan)速(su)(su)度(du)和(he)排液等(deng)參數都由軟件控(kong)制面板(ban)來控(kong)制，其中(zhong)超(chao)聲時(shi)(shi)間(jian)、攪(jiao)拌速(su)(su)度(du)和(he)循環(huan)速(su)(su)度(du)都是連續調節(jie)，設置數字顯示。

攪拌器

攪(jiao)拌器是用來均化(hua)的器件，攪(jiao)拌速(su)度通過控制面板連續可調，設(she)置數(shu)字顯示。

攪拌支撐臂

支撐(cheng)臂是支撐(cheng)攪(jiao)拌(ban)的器件(jian)，在加(jia)入液體(ti)時需要把(ba)支撐(cheng)臂抬起。

頂蓋

頂蓋是樣品池和支(zhi)撐臂上的蓋子。

導軌(gui)

支撐整個(ge)光路(lu)系統的構架，整個(ge)導軌為一體(ti)結(jie)構，不變(bian)形。

樣品窗

是檢測樣品(pin)的窗(chuang)(chuang)口，只有流(liu)經樣品(pin)窗(chuang)(chuang)的顆(ke)粒才會被檢測，樣品(pin)窗(chuang)(chuang)內外必須(xu)保持潔凈(jing)。

探測器(qi)陣列

是非均勻(yun)交叉三維扇(shan)形距陣陣列，能夠很好的分辨測(ce)量范圍(wei)內(nei)的顆粒粒度(du)分布。

高速數(shu)據線

數據線是儀器和計算(suan)機(ji)通訊的(de)電纜線。

通(tong)訊(xun)口

通(tong)訊口(kou)是儀器的(de)連接接口(kou)，采用三口(kou)的(de)航(hang)空(kong)插頭。

基準

又(you)稱(cheng)為背景(jing)，是(shi)動態(tai)測量的(de)基礎。

分(fen)散劑

又稱(cheng)表面(mian)活性劑，是解(jie)決顆粒與介質表面(mian)浸(jin)潤問題的試劑，它的加入不影響顆粒的粒度。常用的有(you)：焦(jiao)磷(lin)酸(suan)(suan)鈉、六偏磷(lin)酸(suan)(suan)鈉等(deng)。

分散介質

分散介質是(shi)顆(ke)粒用來(lai)分散的介質，常用的有：水(shui)（蒸餾水(shui)）、乙醇和溶劑油等。

表面活性劑

又稱分散劑，見(jian)分散劑。

超聲分散

超聲系統*的特性(xing)，能(neng)夠(gou)分(fen)(fen)(fen)散(san)(san)一些團聚(ju)的顆粒(li)(li)(li)，超聲分(fen)(fen)(fen)散(san)(san)不改變(bian)顆粒(li)(li)(li)的粒(li)(li)(li)度，只(zhi)是把團聚(ju)的顆粒(li)(li)(li)分(fen)(fen)(fen)散(san)(san)開，這種分(fen)(fen)(fen)散(san)(san)在學術上稱(cheng)為空化。

均化

就是均勻化，是指把顆粒均勻的分散到分散介質中，避免顆粒一(yi)縷(lv)(lv)縷(lv)(lv)或一(yi)團團的經過樣(yang)品窗。

動(dong)態測(ce)量

動態測量是把動態采(cai)集到的結果，經過計算(suan)機迅(xun)速處理，并顯(xian)示(shi)到計算(suan)機屏幕上。

隨機存儲

動(dong)態顯(xian)示的結(jie)果(guo)只(zhi)是(shi)瞬間駐留在內存中，并沒有保存到文件中，隨(sui)機(ji)存儲(chu)就是(shi)點(dian)一下按鍵(jian)，保存一個動(dong)態結(jie)果(guo)。

定時存(cun)儲(chu)

定時(shi)存(cun)儲是設定一個間隔(ge)時(shi)間，軟件會按照(zhao)間隔(ge)時(shi)間將記錄保存(cun)到(dao)文件中。

數據表

數據表(biao)是將粒(li)徑(jing)點、微分百(bai)分含量和累積百(bai)分含量，以表(biao)格的形式顯(xian)示。在改(gai)變粒(li)徑(jing)結點的情(qing)況下可以顯(xian)示成多種形式：對數方圖粒(li)度分布(bu)(bu)(bu)、自定義粒(li)度分布(bu)(bu)(bu)、R-R分布(bu)(bu)(bu)和篩(shai)分分布(bu)(bu)(bu)。

粒度分布圖

數據表(biao)是將粒(li)徑點、微分百分含量(liang)和累積百分含量(liang)，以(yi)圖形(xing)的形(xing)式顯(xian)示，可以(yi)直(zhi)觀的看出顆粒(li)的粒(li)度分布圖形(xing)及規(gui)律(lv)。

R-R分布

R-R分(fen)布是一(yi)種統計規律的分(fen)布形式(shi)。

標準分布

標(biao)準分布是按照軟件和硬件的(de)自然設置(zhi)，得出(chu)的(de)顆(ke)粒的(de)粒度(du)分布。標(biao)準分布的(de)粒徑點(dian)是使用系(xi)統默認的(de)130個粒度(du)分級。

自定義分級分布

自定義分級分布(bu)和標(biao)準分布(bu)主(zhu)要區(qu)別是粒(li)徑點的不同(tong)，自定義分級，就是自定義粒(li)徑點。

篩(shai)分(fen)分(fen)布

篩(shai)(shai)分(fen)分(fen)布是按照(zhao)篩(shai)(shai)分(fen)標準(zhun)中目和微(wei)米(mi)的(de)對(dui)應關系(xi)，求(qiu)去與(yu)篩(shai)(shai)網對(dui)應的(de)篩(shai)(shai)余(yu)物的(de)百分(fen)比，一般的(de)篩(shai)(shai)余(yu)百分(fen)比對(dui)應粒度分(fen)布中D97。

對數方圖

對數(shu)方圖的(de)形式相當于函(han)數(shu)中的(de)分(fen)段函(han)數(shu), 求(qiu)出(chu)函(han)數(shu)中任何點的(de)百分(fen)比是(shi)不可能(neng)的(de)，采用合理的(de)多次(ci)插(cha)值(zhi)方法，能(neng)夠得(de)到(dao)連續(xu)的(de)粒(li)度分(fen)布曲(qu)線，更(geng)加(jia)合理的(de)描述粒(li)度分(fen)布。

目

目是(shi)篩分中的單位(wei)，目和微米的對應關系見下表。

顆粒折射率

顆粒折射率是指顆粒對光的發散和吸收的現象。實(shi)部對應發散，虛部對應吸收，請參閱(yue)顆粒折射率表(biao)

介質(zhi)折射率

介(jie)質(zhi)折射率(lv)是光(guang)在介(jie)質(zhi)中傳播的(de)速度(du)和在真空中傳播速度(du)的(de)比值，請參閱介(jie)質(zhi)折射率(lv)表(biao)。

用戶及密碼

用戶可以自己設(she)置登(deng)陸的用戶名(ming)和密(mi)(mi)(mi)碼，如果刪除(chu)全部密(mi)(mi)(mi)碼可以不用輸入用戶名(ming)而登(deng)陸，請參閱用戶及密(mi)(mi)(mi)碼。

自定義累積粒徑點

需要統計(ji)的(de)累(lei)積粒徑點，可以(yi)在(zai)軟件(jian)中更(geng)改并保存。

自定義累(lei)積百(bai)分(fen)比點

需要統計的自定義百(bai)分比點，一般設置(zhi)為D3和(he)D97，因為多(duo)數情況下用這兩個點來表示小(xiao)和(he)大顆粒。

D50、D10、D90

D50：表(biao)示粒度分布(bu)中(zhong)占(zhan)50%所對(dui)應的粒徑，又(you)稱中(zhong)位(wei)徑

D10：表示粒度分布中占10%所對應的(de)粒徑

D90：表示粒(li)度分(fen)布中占(zhan)90%所對應的(de)粒(li)徑

Dav、S/V

Dav：表(biao)示粒度分(fen)布的平(ping)均粒徑(jing)

S/V：比(bi)表面積，系統可以選擇體積比(bi)表面積或重量(liang)比(bi)表面積。

擬合系數

指顆粒群的中位(wei)徑與平均粒徑的比值，表示(shi)顆粒群的粒徑分布(bu)與正態分布(bu)的偏離(li)程度。

標稱值(zhi)、平均值(zhi)

每種標準(zhun)樣都(dou)有一(yi)個(ge)標準(zhun)的經過認(ren)可的粒徑，稱為標稱值。

多次測量(liang)結果求平(ping)均(jun)后的結果，稱(cheng)為平(ping)均(jun)值(zhi)。

標準偏差

統計(ji)學的(de)概念(nian)，幾次測量結(jie)果(guo)在平均(jun)值左右(you)的(de)偏移(yi)程度，表(biao)示測量結(jie)果(guo)的(de)準確性(xing)和重復性(xing)。