(1)激(ji)光法：優(you)點(dian)：操作簡便，測(ce)試速度快，測(ce)試范(fan)圍大，重復性和準確(que)性好，涵蓋行業(ye)廣泛，可實現濕法(fa)、干法(fa)、噴霧以(yi)及(ji)在線測(ce)量(liang)，也是當下(xia)zui常用的粒度檢測(ce)儀器。缺點(dian)：數據模型以(yi)及(ji)算法(fa)參(can)數影響(xiang)較大，成本相(xiang)對較高。

(2)靜(jing)態圖(tu)像法：由顯微鏡、攝(she)像機和(he)圖(tu)像分析軟件組(zu)成。優點：成本較低(di)，操作簡(jian)單(dan)，圖(tu)像清晰、可進(jin)行圓形度(du)、長徑比等形貌分析。缺(que)點：分析速度(du)慢（制作標本等工序），無(wu)法分析細顆粒（如(ru)<1μm）。 

(3)動態圖(tu)像法(fa)：由(you)顯微鏡、高速攝像(xiang)機(ji)、樣品分(fen)(fen)散系統、控(kong)制系統以及高速圖(tu)像(xiang)分(fen)(fen)析(xi)軟件(jian)組成。優(you)點：顆粒圖(tu)像(xiang)直觀(guan)清晰(xi)，操作(zuo)簡(jian)便(bian)、拍攝與分(fen)(fen)析(xi)速度快、重復性和準確性好(hao)，可干法(fa)也可濕(shi)法(fa)，可測(ce)量zui大顆粒，可進行圓形(xing)度、長徑(jing)比等形(xing)貌分(fen)(fen)析(xi)。缺點：分(fen)(fen)析(xi)細(xi)顆粒（如<1μm）圖(tu)像不(bu)清(qing)晰，誤差(cha)較(jiao)大，成(cheng)本較(jiao)高。

(4)電鏡法(fa)：用電子顯微鏡(jing)（掃描電鏡(jing)或透(tou)射(she)電鏡(jing)）拍攝顆(ke)粒(li)圖(tu)像，然后再進行圖(tu)像分析(xi)的方法。優點：能(neng)分析(xi)納米顆(ke)粒(li)和超細顆(ke)粒(li)，圖(tu)像清(qing)晰，表(biao)面紋(wen)理可見，分辨(bian)率高，是表(biao)征納米材料粒(li)度的標準(zhun)方法。缺(que)點：單幅圖(tu)像中的顆(ke)粒(li)數(shu)少、代表(biao)性差、儀器價格昂貴。

(5)篩分法：優(you)點：簡(jian)單(dan)、直(zhi)觀、設(she)備造價(jia)低，常用于大于38μm（400目(mu)）的(de)樣(yang)品。缺點：不(bu)能用于超細樣(yang)品；結果受人為因素和篩孔(kong)變形影(ying)響較大。

(6)沉降法：優點(dian)：操作(zuo)簡便，儀器可(ke)以連(lian)續運行，價格(ge)較低，準確性和重復(fu)性較好，測(ce)試(shi)范圍較大。缺(que)點(dian)：測(ce)試(shi)時(shi)間較長，操作(zuo)較復(fu)雜(za)，結果易受(shou)環境因素(su)影響。

(7)光阻法：優(you)點(dian)：測試速度快，可測液體或(huo)氣體中顆粒數，分辨力高，樣品(pin)用(yong)(yong)量少(shao)。缺點(dian)：進(jin)樣系統比(bi)較復(fu)雜，不適用(yong)(yong)粒徑<1μm的(de)樣品(pin)。

(8)電阻(zu)法：優點：操作簡便，可測顆粒數(shu)，等效概念明確，速度快，準確性好。缺點：不適合測量超細樣品和寬分布樣品，更換小孔管比較(jiao)麻(ma)煩。

(9)超聲(sheng)波法：優點：可對高濃(nong)度漿料(liao)直接現(xian)場測量(liang)，無需取(qu)樣。缺(que)點：分辨(bian)率較低，準確性和重復性較差，結果受(shou)環境因素影響較大(da)。

(10)透氣(qi)法(fa)（費氏法(fa)）：優點：儀器(qi)價(jia)格低，不(bu)用對樣品進行分散，可直接測(ce)量(liang)干粉，可測(ce)磁性材(cai)料粉體(ti)。缺點：只(zhi)能(neng)(neng)得到平(ping)均(jun)粒度值(zhi)，不(bu)能(neng)(neng)測(ce)粒度分布(bu)。